image image image image
image
image
image
image

Nanosurf NaioAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Nanosurf NaioAFM

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

 

NaioAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) temel uygulamalar için tasarlanmış yekpare bir AFM sistemidir.

NaioAFM ile çalışmalarınızı yüksek performanslı ve stabil şekilde kolayca gerçekleştirebilirsiniz. Sistem dahili kontrol ünitesi, hava akımını önleyici koruma kapağı, titreşim izolasyon ayakları ve ve 12 mm'lik XY tablası ile derlitoplu bir şekilde kullanımınıza sunulmaktadır. 

NAioAFM’in sahip olduğu yüksek çözünürlüklü üst ve yan kamera, sayesinde numunenizin hangi bölgesini taradığınızı ve numunenize ne kadar yaklaştığınızı görüntüleyebilitsiniz.




Ürün Özellikleri
Spesifikasyonlar
Belgeler

NaioAFM’i üç boyutlu topografya analizleri, faz-kontrast, elektrostatik kuvvet, manyetik kuvvet, film, tabaka ve katman kalınlığı ölçümleri ve kesit analizlerinde kullanabilirsiniz. Tek başına AFM ihtiyacınızaa çözüm sunabilen NaioAFM sistemine, temel spektroskopi ile litografi özelliklerinin yanısıra taramalı tünelleme mikroskopisi (STM), iletkenlik ölçümleri, kuvvet haritalaması ve ileri seviyede spektroskopi modlarını ekleyerek sistemin işlevselliğini genişletebilirsiniz..


Detaylı bilgi almak için