
Yüzey ve Malzeme Karakterizasyonu
- Taramalı Uç Mikroskopları (SPM)



Nanosurf NaioAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
Nanosurf NaioAFM
Atomik Kuvvet Mikroskobu
(AFM)
NaioAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) temel uygulamalar
için tasarlanmış yekpare bir AFM sistemidir.
NaioAFM ile çalışmalarınızı yüksek performanslı ve stabil şekilde kolayca gerçekleştirebilirsiniz. Sistem dahili kontrol ünitesi, hava akımını önleyici koruma kapağı, titreşim izolasyon ayakları ve ve 12 mm'lik XY tablası ile derlitoplu bir şekilde kullanımınıza sunulmaktadır.
NAioAFM’in sahip olduğu yüksek çözünürlüklü üst ve yan kamera, sayesinde numunenizin hangi bölgesini taradığınızı ve numunenize ne kadar yaklaştığınızı görüntüleyebilitsiniz.
