Hiden Analytical SIMS/SNMS Workstation İkincil İyon Kütle Spektrometresi

İkincil iyon kütle spektrometri tekniği, yüzey karakterizasyonunda kullanılan ve birkaç yüz nanometre seviyesinden tekil atomik tabaka mertebesine kadar geniş bir aralıkta yüksek hassasiyet ile çalışmanızı sağlayan bir yöntemdir.

Detaylı Bilgi Al

Seramik, metal, organik malzemeler, polimerlerden yarı-iletkenlere kadar geniş bir yelpazede vakuma dayanıklı ortama uygun herhangi bir malzeme ile çalışılabilmektedir.

Yüzey karakterizasyonunun önem taşıdığı ince-film, nanoteknoloji ya da yakıt hücresi çalışmaları gibi bir çok farklı uygulamaya özel olarak konfigüre edilen SIMS/SNMS Workstation ile ilgili detaylı bilgi için bize ulaşabilirsiniz.

Bu ürünü paylaş

Temsilcilik

Hiden Analytical

Sektörler

No items found.
No items found.

Belgeler

No items found.

Detaylı Bilgi Al

Ürün hakkındaki tüm sorularınızı uzmanlarımıza sorabilirsiniz.

Hiden Analytical SIMS/SNMS Workstation İkincil İyon Kütle Spektrometresi ile ilgili haberler

Hiden Analytical SIMS/SNMS Workstation İkincil İyon Kütle Spektrometresi ile ilgili Terralab ekosistemindeki son güncellemeler aşağıdaki gibidir.

Size nasıl yardımcı olabiliriz?

Sürdürülebilir fayda.

Müşterilerimizin değer zincirlerini anlayarak, doğru tanımlanan ihtiyaçlar için doğru konfigüre edilmiş çözümler sunuyoruz. Satış ve sonrası süreçlerde 25 yıllık birikimimizi müşterilerimizin memnuniyetini oluşturmaya yanstıyoruz.

İletişim

Sizin ihtiyaçlarınızı ve amaçlarınızı özümsemek için sizi dinliyoruz.

Uzmanlık

Süreçlerinizi istediğiniz noktaya taşıyacak çözümü oluşturuyor ve sürekliliğini sağlıyoruz.

Güven

Güvenilir sonuçlara en verimli şekilde ulaştıracak rotayıbirlikte oluşturuyoruz.