Mikroskopi Sistemleri
Mikroskopi, çıplak gözle görülemeyen maddeleri ya da yapıları görüntülemek üzere geliştirilmiş teknikler bütünüdür. Mikroskopinin iyi bilinen üç dalı vardır: optik, elektron ve taramalı prob mikroskobu.
Andor BC43 Masaüstü Konfokal Mikroskop
BC43, geniş alan ve geçirimli ışık mikroskobunu bir arada sunan bir masaüstü konfokal mikroskobudur. Bu kompakt tasarım yeni araştırmacılar için kolay kullanım anlamına gelirken deneyimli araştırmacılar için hızlı ve pratik bir çözüm olmaktadır. Sistemin bir karanlık odaya ihtiyaç duymadan çalışabilmesi sayesinde araştırmacılar rutin çalışmalarını gerçekleştirdiği laboratuvar tezgahı üzerinde konfokal teknolojisine erişebilirler.
Andor Dragonfly Yüksek Hızlı Konfokal Mikroskop
Dragonfly, yüksek hızlı ve yüksek kontrastlı bir konfokal mikroskop sistemidir. Sistem, sahip olduğu çok-noktalı konfokal ile dönen-disk konfokal görüntüleme teknolojisini kullanır. Bu sayede numunelerde fototoksisite ve ışık ağarması en aza indirgendiğinden canlı hücre görüntüleme için en uygun çözüm olarak sunulmaktadır.
Andor Imaris Görüntü Analiz Yazılımı
Imaris, bir mikroskop görüntüsü analiz yazılımıdır. Yazılım araştırmacılara, farklı sürücülerdeki verileri bir araya getirerek mikroskopi görüntülerini yönetmeleri ve analiz etmeleri için eksiksiz bir iş akışı sağlar.
Andor Kameralar
Andor Bilimsel Kameralar, hassasiyet, hız, gürültü profili, dinamik aralık ve doğrusallık gibi özellikleri birleştirerek sunduğu yüksek duyarlılık sayesinde üstün performans gerektiren birçok uygulamada kantitatif bilimsel ölçüm ve görüntüleme yeteneği sunan kameralardır.
Nanosurf CoreAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
CoreAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) kompakt tasarımlı, güçlü ve çok yönlü araştırma sistemidir.
Nanosurf DriveAFM Yüksek Çözünürlüklü Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
DriveAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) istikrarlı ve yüksek performans sağlamak üzere son teknoloji ile donatılmış bir sistemdir. Sistemin fark yaratan performansı aşağıda listeli bileşenler ile sağlanmaktadır:
Nanosurf FlexANA Otomatik Nanomekanik Analiz Cihazı
Flex-ANA Otomatik Nanomekanik Analiz Cihazı AFM temelli nanomekanik analiz için otomasyon sağlayan bir çözümdür.
Nanosurf LensAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
LensAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) optik mikroskoplar için geliştirilmiş bir cihazdır. Böylece mikroskobunuzun ya da profilometrenizin çözünürlüğünü genişletebilirsiniz.
Nanosurf NaioAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
NaioAFM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) temel uygulamalar için tasarlanmış yekpare bir AFM sistemidir.
Nanosurf PicoBalance Tekil Hücre Kütle Monitörü
PicoBalance, mikroskopik boyuttaaki biyolojik numunelerin ya da malzeme bilimi sistemlerinin milisaniye çözünürlükte ve pikogramın altındaki ağırlıklarda ölçümlerini sağlayan bir sistemdir.
Optik mikroskopi ve elektron mikroskobu, numune ile etkileşime giren elektromanyetik radyasyonun/elektron ışınlarının kırınımını, yansımasını veya kırılmasını, bir görüntü oluşturmak için saçılan radyasyonun veya başka bir sinyalin toplanmasını içerir. Bu işlem, numunenin geniş alan ışınlaması ile (örneğin standart ışık mikroskobu ve transmisyon elektron mikroskobu) veya numune üzerinde ince bir ışın taranarak (örneğin konfokal lazer tarama mikroskobu ve taramalı elektron mikroskobu) gerçekleştirilebilir.
Taramalı prob mikroskopisi, bir probun ilgilenilen malzemenin yüzeyi ile etkileşimini kullanarak yüzeyin taranması işlemidir. Taramalı prob mikroskobu (SPM) alanı, 1980'lerin başında taramalı tünelleme mikroskobunun (STM) icadıyla başladı. Devamında atomik kuvvet mikroskobunun (AFM) icadıyla büyük bir atılım yaşandı ve o zamandan beri nano ölçekli karakterizasyon ve ölçümlerde devrim yaratmaya devam ediyor. Bugün AFM, en popüler SPM türüdür ve AFM ve SPM terminolojisinin sıklıkla eşanlamlı olarak kullanılmasına neden olur.
AFM, çok çeşitli mekanik özellikleri (ör. yapışma, sertlik, sürtünme, dağılma), elektriksel özellikleri (ör. kapasitans, elektrostatik kuvvetler, iş fonksiyonu, elektrik akımı), manyetik özellikleri ve optik spektroskopik özellikleri karakterize edebilir. Görüntülemeye ek olarak AFM probu, litografi ve moleküler çekme deneylerinde alt tabakaları manipüle etmek, yazmak ve hatta çekmek için kullanılabilir.
Esnekliği nedeniyle atomik kuvvet mikroskobu, optik ve elektron mikroskobunun yanı sıra malzeme karakterizasyonu için yaygın bir araçtır ve nanometre ölçeği ve ötesine kadar çözünürlükler elde edebilir. AFM, ultra yüksek vakumdan sıvılara kadar farklı ortamlarda çalışabilir ve bu nedenle fizik ve kimyadan biyoloji ve malzeme bilimine kadar tüm disiplinleri kapsar.
