Atomik Kuvvet ve Taramalı Tünelleme Mikroskopisi için:
Kompakt AFM ve STM Sistemleri, araştırma ve uygulamaya özel tasarlanmış gelişmiş Atomik Kuvvet Mikroskopları
COMPACT ❭
RESEARCH ❭
ADVANCED ❭
Nanite AFM
Büyük numuneler için
Atomik Kuvvet Mikroskobu
Nanite AFM
Büyük numuneler için Atomik Kuvvet Mikroskobu
Büyük numunelerde tarama yapabilen
kompakt ve monte edilebilir atomik kuvvet mikroskobu
Emsalsiz küçüklükteki NaniteAFM tarama kafası, özellikle otomatik endüstriyel sistemlere entegre edilebilen ideal bir atomik kuvvet mikroskobudur. 1 nanometrenin altındaki çözünürlüğü ile NaniteAFM en küçük yüzey yapılarını bile belirler ve görüntüler. Kolay kullanımı ve çeşitli şekillerde entegre olabilmesi, ürün analizlerinizi başka bir seviyeye taşır. Kaplamaların istenen yapılarda gelişip gelişmediğini kontrol edebilir, işlem görmüş ve görmemiş malzemelerinizin yüzey pürüzlülüğünü ölçebilir, ya da, diğer AFM ölçüm modlarını kullanarak sadece topografya ile görünmeyen özellikleri belirleyebilirsiniz. Kullanım kolaylığı ve tekrarlanabilirliği NaniteAFM'i hassasiyet mühendisliği, üretim proses optimizasyonu ya da yarı-iletken üretimi gibi alanlarda mükemmel bir kalite kontrol aracı olmasını sağlar.
Camdaki nanoscale dalgalarının
görüntüsü (A) ve yükseklik profili (B
.
Cam yüzey
alt-nanometre pürüzlülüğü
Görüntü (A)
istatistiksel analiz (B)
Broşür
Video
TERRALAB© Terralab Laboratuvar Malzemeleri San. ve Tic. A.Ş · Tic.Sicil: 125710 · Mernis: 0084000614900014
Çetin Emeç Bulvarı 1328. Sokak 14/9 A.Öveçler 06460 Çankaya / Ankara / Türkiye T: +90 312 472 73 96 | F: +90 312 472 73 98
ANASAYFA · HAKKIMIZDA · İLETİŞİM · TEMSİLCİLİKLER · ETKİNLİKLER · info@terralab.com.tr
