LensAFM

Optik Mikroskoplar için AFM

Mikroskobunuzun ya da 3D profilometrenizin çözünürlüğünü genişletin.

Nanosurf LensAFM, hemen hemen her optik mikroskopta ya da profilometrede normal objektif bir lens gibi kullanılan ve bu sistemlerin ölçüm kapasitesini vce çözünürlüğünü büyük ölçüde arttıran bir atomik kuvvet mikroskobudur. LensAFM sadece 3D yüzey topografyasını sağlamakla kalmaz, numunenin bir çok farklı fiziksel özelliğin belirlenmesi için de kullanılabilir.

Nanosurf LensAFM

LensAFM

Optik Mikroskoplar için
Atomik Kuvvet Mikroskobu 

Atomik Kuvvet  ve Taramalı Tünelleme Mikroskopisi için:
Kompakt AFM ve STM Sistemleri, araştırma ve uygulamaya özel tasarlanmış gelişmiş Atomik Kuvvet Mikroskopları 

COMPACT  ❭

RESEARCH  ❭

ADVANCED  ❭

 

Broşür

Video

 

Nanosurf LensAFM Brochure
Metal Surface Analysis
Metal Surface Analysis
Topagraphy Analysis

Defects in a hard-coated metal surface as observed through a 100× microscope objective lens (NA 0.9). The nature and exact structure remain unclear.

The same area as observed through the LensAFM's built-in 8× objective lens. The AFM cantilever is visible in the optical image and allows easy positioning of the sample before measurement.

AFM topography of the same defect recorded by the LensAFM. 3D data of the area clearly identify the defect as a hole in the coating layer, partially filled with debris.

Mikroskobunuzun ya da 3D profilometrenizin çözünürlüğünü genişletin.

TERRALAB© Terralab Laboratuvar Malzemeleri San. ve Tic. A.Ş  · Tic.Sicil: 125710 · Mernis: 0084000614900014
Çetin Emeç Bulvarı 1328. Sokak 14/9  A.Öveçler  06460 Çankaya / Ankara / Türkiye    T: +90 312 472 73 96  |  F: +90 312 472 73 98

ANASAYFA ·  HAKKIMIZDA  ·  İLETİŞİM  ·  TEMSİLCİLİKLER  ·   ETKİNLİKLER  ·  info@terralab.com.tr

sayfa başına git