-  300, 510 veya 1000 akb kütle aralığında analiz imkanı

-  Statik (yüzey analizi) ve Dinamik (derinlik profili) çalışma imkanı

-  Pozitif, negatif ve nötral bileşiklerin kantitatif analizi

-  Nanometre mertebesinde derinlik ölçüm hassasiyeti (± 5 nm)

-  30 mikron'a kadar derinlik analizi yapabilme

-  PPM/PPB hassasiyetinde kontaminasyon analizleri

-  cm3 başına 1016 atom'luk oldukça düşük miktarlarda analiz gerçekleştirebilme

Hiden, SIMS Workstation, yüksek hassasiyette yüzey analizi ve derinlik profili çıkarmak için tasarlanmış, sahip olduğu yenilikçi teknolojisi ile ileri malzeme araştırmalarında detaylı sonuçlar veren ikincil iyon kütle spektrometre sistemidir

Hiden Analytical, sahip olduğu ince film karakterizasyon bilgi birikiminin ışığında, gelişen teknolojinin ekipmanlarını bir üst basamağa taşıyarak tasarladığı İkincil İyon Kütle Spektrometre (SIMS) sistemi ile kullanıcılara elementlerin, moleküllerin ve izotopların analizinde etkin çözümler sunabilmektedir. SIMS Workstation, Hiden'ın en üst düzey SIMS sistemi olup; ikincil nötral kütle spektrometre (SNMS) ile kombine edilmiş, oksijen ve sezyum iyon tabancaları ile, pozitif, negatif ve nötral bileşenlerin tayinini, yüzeyin kimyasal taramasını ve derinlik analizlerini yüksek hassasiyette gerçekleştirebilmektedir.
 

Genel Bakış
Özellikler
Uyguamalar
Genel Bakış
Özellikler
Uygulamalar
Hiden_Analytical_SIMS_Workstation

Yüzey Analizinde çığır açan buluş

SIMS Workstation

www.hidenanalytical.com

 

TERRALAB©  . Terralab Laboratuvar Malzemeleri San. ve Tic. A.Ş. .  Tic.Sicil. 125710 .  info@terralab.com.tr  . T: +90 312 472 73 96  .  F: +90 312 472 73 98  . Çetin Emeç Bulvarı 1328. Sokak 14/9 A.Öveçler  06460 Ankara

Terralab
Laboratuvar
Malzemeleri
San.Tic. A.Ş

Terralab - 17.YIL