-  300, 510 veya 1000 akb kütle aralığında analiz imkanı

-  Statik (yüzey analizi) ve Dinamik (derinlik profili) çalışma imkanı

-  Pozitif bileşiklerin, opsiyonel olarak negatif iyonların analizi

-  Opsiyonel SNMS seçeği

-  Nanometre mertebesinde derinlik ölçüm hassasiyeti (3 nm)

-  PPM hassasiyetinde analiz

-  10 örneğe kadar manuel besleme yapabilme

-  Tek UHV hazne ile kompakt tasarım

Hiden Compact SIMS, ekonomik, hızlı ve kolay kullanımlı yüzey karakterizasyonları ile derinlik profili çıkarmak için tasarlanmış SIMS modelidir.

Compact model SIMS, ince film tabaka yapısı, yüzey kontaminasyonu ve safsızlıkların, hassas bir şekilde tayin edilen pozitif iyonların belirlenmesi ile ekonomik, hızlı ve kolay bir şekilde gerçekleştirebilmektedir. Oksijen iyon tabancası, nanometre mertebesinde derinlik analizi imkanı sağlaması için ideal bir şekilde analizi yapılan yüzeye yakın bir yere konumlandırılmıştır.

Kuru vakum pompası ile vakum sağlanan örnek ölçüm haznesine 10 örnek yerleştirilebilmektedir. Az yer kaplayan Compact SIMS sistemi, derinlik profil analizleri ve pozitif iyonların tayinini hızlı, kolay ve tekrarlanabilir bir şekilde analiz etmek isteyen kullanıcılarına etkin çözümler sunabilmektedir.

Genel Bakış
Özellikler
Uygulamalar
Genel Bakış
Özellikler
Uygulamalar
Hiden_Analytical_Compact_SIMS
Broşür
www.hidenanalytical.com

Ekonomik ve
yüksek performanslı
SIMS

Compact SIMS

TERRALAB©  . Terralab Laboratuvar Malzemeleri San. ve Tic. A.Ş. .  Tic.Sicil. 125710 .  info@terralab.com.tr  . T: +90 312 472 73 96  .  F: +90 312 472 73 98  . Çetin Emeç Bulvarı 1328. Sokak 14/9 A.Öveçler  06460 Ankara

Terralab
Laboratuvar
Malzemeleri
San.Tic. A.Ş

Terralab - 17.YIL