-  50, 300 veya 510 akb kütle aralığında analiz imkanı

-  Statik (yüzey analizi) ve Dinamik (derinlik profili) çalışma imkanı

-  Pozitif bileşiklerin, opsiyonel olarak negatif iyonların analizi

-  Opsiyonel SNMS seçeği

-  Nanometre mertebesinde derinlik ölçüm hassasiyeti (3 nm)

-  PPM hassasiyetinde analiz

-  Otomatik örnekleme sistemi ile rutin analizlerin kolayca yapılabilmesi

-  Tek UHV hazne ile kompakt tasarım

Hiden AutoSIMS, tamamı otomatik örnekleme sistemine sahip, rutin ve sürekli tekrar gerektiren ince film analizleri, kontaminasyon ve derinlik profili gibi ölçümlerde etkin, hassas ve tekrarlanabilir sonuç verebilen SIMS sistemidir.

Hiden'ın kütle spektrometreleri konusunda sahip olduğu bilgi ve tecrübesinin bir yansıması olan SIMS sisteminin en yenilikçi ve yeni ürünü olan AutoSIMS modeli, yüksek vakum (UHV) ortamında çalışabilen oto örnekleyicisi ile rutin yüzey analizi ve derinlik profili çalışmalarında etkin çözümler sunar.

Örnekler modüler örnek tutucu içerisine yerleştirilir ve bilgisayar kontrollü yüksek pozisyonlama yeteneğine sahip örnekleyici örneklerin analizi gerçekleştirilebilmektedir. Sistemin sahip olduğu oksijen iyon tabancası, sahip olduğu yüksek kullanım ömrü ile 24 saat gece-gündüz analiz imkanı sunmaktadır.

 

Hiden_Analytical_AutoSIMS
www.hidenanalytical.com

Otomatik örnekleme sistemli
Yüzey Analiz Sistemi

AutoSIMS

Genel Bakış
Özellikler
Uygulamalar
Genel Bakış
Özellikler
Uygulamalar
Broşür

TERRALAB©  . Terralab Laboratuvar Malzemeleri San. ve Tic. A.Ş. .  Tic.Sicil. 125710 .  info@terralab.com.tr  . T: +90 312 472 73 96  .  F: +90 312 472 73 98  . Çetin Emeç Bulvarı 1328. Sokak 14/9 A.Öveçler  06460 Ankara

Terralab
Laboratuvar
Malzemeleri
San.Tic. A.Ş

Terralab - 17.YIL