SIMS Yüzey Analizi

İnce film yüzey kaplamaları çalışmalarında, yüzey bileşenlerinin tayini, kontaminasyona sebebiyet veren maddelerin tayini ve derinlik profili oluşturmadan Hiden'ın çığır açan SIMS sistemleri kullanıcıya etkili sistemler sunmaktadır.

 

www.hidenanalytical.com

SIMS yüksek hassasiyete sahip, yüzey bileşenlerinin ve kontaminasyona sebebiyet veren maddelerin tayinine ek, incelenen ince filmin katmanlarının derinlik profillerinin çıkarılmasına imkan veren yüzey analiz tekniğidir.

Hiden'ın sunmuş olduğu farklı SIMS modelleri,  detaylı yüzey haritalaması, 2 nanometreye kadar derinlik profili verebilen hassas sistemi ve yüksek performanslı statik/dinamik SIMS analizleri ile rakiplerine kıyasla çok daha hassas ve etkili analiz yapılabilmesine imkan sağlamaktadır.

TERRALAB©  . Terralab Laboratuvar Malzemeleri San. ve Tic. A.Ş. .  Tic.Sicil. 125710 .  info@terralab.com.tr  . T: +90 312 472 73 96  .  F: +90 312 472 73 98  . Çetin Emeç Bulvarı 1328. Sokak 14/9 A.Öveçler  06460 Ankara

Terralab
Laboratuvar
Malzemeleri
San.Tic. A.Ş

Terralab - 17.YIL