İnce Film Oluşturma ve Karakterizasyon Sistemleri

MP-SPR Navi 200 OTSO, giriş seviye yarı-otomatik bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Sistem özellikle gaz ölçümleri, ince film karakterizasyonu ve öğretim amaçları için tercih edilir. Sistemin açık tasarımı, farklı aksesuarlarla kullanımına imkan tanır.

MP-SPR Navi 210A VASA, 6 numune kapasiteli oto-örnekleyiciye sahip bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Sistemin akış hücre hortumlarının geniş iç çapı ve 6 numuneli otomasyonu sayesinde özellikle malzeme karakterizasyonu ve nanopartikül araştırmaları için idealdir.

MP-SPR Navi 220A NAALI özellikle yaşam bilimleri uygulamaları için geliştirilmiş, well-plate otomasyonuna sahip bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Sistem PureKinetics ile bağlanma kinetiği analizlerini gerçekleştirmenin yanısıra yapısal değişiklikler ve katman özelliklerinin belirlenmesine imkan sunar.

MP-SPR Navi 400 KONTIO, giriş seviye yarı-otomatik ve modüler bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Sistem özellikle hücre yapışması ve hücreler arası etkileşimleri tanımlı fizyolojik koşullarda ölçmek için geliştirilmiştir. Sistem, hücre kültürü gibi karmaşık ve ham sıvı ortamlarında çalışmak için uygundur.

MP-SPR Navi 410A KAURIS, yaşam bilimleri çalışmaları için geliştirilmiş 7li oto-örnekleyiciye sahip bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Eş-zamanlı analizi sağlayan 4 akış kanalı ve oto-örnekleyici sistemi hem katman karakterizasyonu hem de afinite ve bağlanma kinetiği çalışmaları için güçlü bir araç haline getirmiştir.

MP-SPR Navi 420A ILVES, moleküler etkileşim çalışmalarında yüksek verim sağlamak üzere geliştirilmiş bir Multi Parametrik SPR sistemidir. Eş-zamanlı analizi sağlayan ve çok düşük ölü hacime sahip 4 akış kanalı sistemin küçük molekül ve antikor etkileşim ölçümleri için tercih edilmesini sağlar.

KSV NIMA ISR FLIP, hava-sıvı ve sıvı-sıvı arayüzlerinde viskoelastisitenin oldukça hassas ölçümlerini sağlayan arayüz kayma reometresidir.

KSV NIMA Langmuir & Langmuir Blodgett sistemleri kontrollü paketleme yoğunluğu ile ince film kaplamalar oluşturmak için yüksek hassasiyetli monotabaka oluşturma sistemleridir.

MicroBAM, bir Langmuir teknesinde hava-su arayüzünde tek tabakaları görselleştirme imkanı sağlayan brewster açı mikroskobudur.

QSense Analyzer Çoklu Kanallı QCM-D Sistemi, yüksek kalitede hızlı numune işleme kapasitesine sahip bir QCM-D sistemidir.

QSense Explorer QCM-D sistemi, farklı deneysel yöntemlerin bir arada kullanımlasına olanak sağlayan tek kanallı bir sistemdir. Ham veriyi gerçek-zamanlı olarak görüntülemenize ek olarak, kütle/kalınlık, viskoelastik özellikler, adsorpsiyon oranları gibi parametreleri de analiz edebilirsiniz. Sistemin sahip olduğu değiştirilebilir akış modülü sayesinde QCM-D ölçümlerinizi farklı tekniklerle bir arada kullanabilirsiniz.

QSense High Pressure QCM-D Sistemi ile deneysel planınızı yüksek basınç ve yüksek sıcaklık koşullarında keşfetme fırsatını elde edebilirsiniz.

QSense Initiator QCM-D sistemi gerçek-zamanlı yüzey etkileşimlerini görüntülemeniz için QCM-D sisteminin temel fonksiyonlarına sahip tek kanallı ve sabit modüllü giriş model sistemdir.

QSense Omni, ince film yüzeylerinde kütle, kalınlık ve viskoelastik özelliklerin değişimini QCM-D yöntemi ile ölçen geliştirilebilir özellikte bir sistemdir.

QSense Pro otomatik çoklu kanallı QCM-D sistemi büyük ölçekli analizleriniz için tam otomasyon sağlayan gelişmiş bir QCM-D sistemidir.

Nano-ölçekli derinlik profili ve kantitatif yüzey analizi hususlarında tasarladığı ikincil iyon-kütle spektrometreleri ile öne çıkan Hiden Analytical bünyesindeki; rutin ve tekrarlı analizlerde operatör müdahelesini ortadan kaldıran AutoSIMS sistemi ile tanışın!

Katman yapılarındaki yüzey kirliliği ya da barındırdığı safsızlıkların karakterizasyonunda hızlı ve kolay bir çözüm sağlayan Compact SIMS sistemi ile tanışın!

Hiden EQS, katı numunelerden elde edilen hem pozitif hem de negative yüklü ikincil iyonların kütle spectral analizi için geliştirilmiş, eşsiz bir elektrostatik ve kuadrupol SIMS dedektörüdür.

Manyetik ince film, yüksek sıcaklık super-iletken ve III-V yarı-iletken çalışmalarında kanıtlanmış bir sistem olan Hiden IMP-EPD ikincil iyon kütle spektrometresi (SIMS), üstün proses kontrolü sağlayan algoritmalar ile geliştirilmiş yazılımı sayesinde önemli çözümler sunar.

Hiden MAXIM; pozitif, negatif, nötr, statik ve dinamik analitik uygulamalarda kullanılmak üzere geliştirilmiş bir ikincil iyon kütle spektrometresidir.

İkincil iyon kütle spektrometri tekniği, yüzey karakterizasyonunda kullanılan ve birkaç yüz nanometre seviyesinden tekil atomik tabaka mertebesine kadar geniş bir aralıkta yüksek hassasiyet ile çalışmanızı sağlayan bir yöntemdir.

İnce film kalite-kontrol çalışmalarındaki tekrarlanabilirlik ihtiyacını moleküler ışın kaynağı üzerindeki kontrol yeteneği ile sağlayan XBS, çoklu ışın kaynaklarının eş-zamanlı olarak gözlemlenmesi için tasarlanmış kuadrupol kütle spektrometresidir.